Ultraschallmikroskopie / made in Germany

Die PVA TePla Analytical Systems GmbH ist seit mehr als 30 Jahren wegweisender Experte auf dem Gebiet der akustischen Mikroskopie. Mit führenden Lösungen für alle Branchen und Technologiebereiche ermöglichen wir unseren Kunden eine zuverlässige zerstörungsfreie Werkstoffprüfung – von der Inspektion von Solar- und Halbleitersystemen bis hin zur Fehleranalyse von Ingots zur Herstellung von Wafern und MEMS-Systemen.

Unsere Strategie / eine solide Basis

Um Ihnen alle Vorteile der Ultraschallmikroskopie zu einem hervorragenden Preis-Leistungs-Verhältnis bieten zu können, setzen wir auf eine solide Grundlage. Jedes Ultraschallrastermikroskop basiert auf einer gemeinsamen Komponentenplattform, die Sie applikationsspezifisch an die jeweils erforderliche Systemkonfiguration anpassen und jederzeit erweitern können. Die hohe Lebensdauer unserer Multi-Channel-Systeme garantiert Ihnen die bestmögliche Investition.

Ihre Aussichten / zusammen zukunftsstark

Strengste Qualitätskontrollen, qualifizierte Ingenieure und Vertriebspartner weltweit ermöglichen uns die kontinuierliche Weiterentwicklung unserer Technologien und Prozesse. Im Fokus liegt dabei die Auflösungsqualität unserer Mikroskope. Mit eigens entwickelter Dünnfilmtechnologie entstehen Transducer mit den weltweit breitesten Frequenzen — von 3 bis 2000 MHz. Die langjährige Kooperation mit namhaften Forschungsinstituten (IMEC, Leti, Fraunhofer-Gesellschaften) trägt wesentlich zum gemeinsamen Erfolg bei.

Weltweit

Entdecken Sie unsere internationale Leistungsfähigkeit, nutzen Sie unsere regionale Präsenz.

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Kontakt

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Karriere

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Unternehmensgeschichte

  1. 2018 verstärkt die PVA TePla Gruppe ihre Metrologie-Sparte. Die PVA SPA Software Entwicklungs GmbH ist ein Spezialist für Software und Automatisierung in der Halbleiter-Industrie sowie für optische Metrologie. Mit dieser Übernahme wird für die weitere strategische Entwicklung der PVA TePla Gruppe ein wichtiger Schritt nach vorne gemacht.

  2. 2016 hat die PVA TePla ihre Position auf dem Chinesischen Markt mit dem Aufbau eines weiteren Vertriebs- und Servicestandortes in der High Tech Region Xi’an nochmals verstärkt.

  3. Vollautomatische Systeme

    Erste vollautomatisierte 8-12 Zoll Wafer Inspektionssysteme zur Bondkontrolle, MEMS Inspektion, Integration von SMIF und FOUP, OHT, GEM/SECS Steuerung

  4. Im Zeichen der Automatisierung

    • Vollautomatisierte AUTO TRAY Systeme zur IGBT-Inspektion und JEDEC TRAY-Inspektion
    • Serienfreigabe der hochfrequenten Dünnschichttransducer für Laborsysteme und vollautomatisierte Inspektionsanlagen
  5. Entwicklung neuer Tools

    • Erstes voll automatisiertes 8/12 Zoll-Bridge Tool (4 Kanalsystem) für die Inspektion von Wafern und MEMS Systemen
    • 3D tomographisches SAM Analyse Tool und Einführung von HILBERT Modulen für die Auflösungs- und Kontrastverbesserung von SAM-Analysen
    • Einführung der SAMnalysis Software für die add line und off line Analyse von SAM Daten
  6. Umfirmierung

    Erwerb des Unternehmens durch die PVA TePla AG und Neubenennung als PVA Tepla Analytical Systems GmbH.

  7. Patentanmeldungen

    • Akustischer Auto Fokus (DE 102006005449 A1 2006.10.12)
    • Akustische Mehrkanalsysteme (DE 102006005448 A1 2006.10.12 2005)
    • Pin Hole Detektion in Si (DE 102006032431 A 12007.12.27)
  8. Neuausrichtung

    Firmierung der SAMTEC GmbH Aalen als Anbieter von SAM Systemen in der industriellen SAM-Mess-und Inspektionstechnologie.

  9. Transducer Fortschritt

    Es entstehen erste Saphir Transducer für die Detektion von Rayleigh Wellen, basierend auf ZnO-Oxid Technologie.

  10. Erstes industriell genutztes Ultraschallmikroskop

    Das SAM Ultraschallmikroskop mit 200 MHz Arbeitsfrequenz wird zur industriellen Anwendung eingeführt.

  11. Die erste SAM Software

    Das erste kommerzielle V(z) Modul, ein Computer unterstütztes System zur Ermittlung der Geschwindigkeit von Oberflächenwellen (Rayleigh-Wellen) mit SAM, wird vorgestellt.

  12. Grundstein der Akustischen Mikroskopie

    Entwicklung des ersten ultra-hochauflösenden Ultraschall-Rastermikroskops "ELSAM" durch Ernst Leitz, Wetzlar (später Leica) mit einer Arbeitsfrequenz von 800 MHz.

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PVA TePla Analytical Systems GmbH
Deutschordenstrasse 38
73463 Westhausen

Telefon: +49 (0) 7363 9544 0
Fax: +49 (0) 7363 9544 113